LCR-метры Актаком АММ-3087 и АММ-3089
Приборы предназначены для высокоточного измерения электрических параметров электронных компонентов и материалов на постоянном и переменном токе на тестовых частотах до 2 МГц АММ-3089 и 500 кГц АММ-3087.
Технические характеристики:
| |Z| | Абсолютная величина импеданса | 0,00001 Ом...99,9999 МОм | |
| X | Реактивное сопротивление | ||
| Rp/Rs | Эквивалентное параллельное/последовательное сопротивление | ||
| DCR | Сопротивление постоянному току | ||
| Сp/Сs | Эквивалентная параллельная/последовательная емкость | 0,00001 пФ...9,99999 Ф | |
| Lp/Ls | Эквивалентная параллельная/последовательная индуктивность | 0,00001 мкГн...99,9999 кГн | |
| Lк | Индуктивность рассеяния | ||
| D | Тангенс угла диэлектрических потерь | 0,00001...9,99999 | |
| Q | Добротность | 0,00001...99999,9 | |
| θz (град) / θy (град) | Фазовый угол импеданса / адмиттанса в градусах | -179,999°...179,999° | |
| θ (рад) / θy (рад) | Фазовый угол импеданса / адмиттанса в радианах | -3,14159...3,14159 | |
Кроме того обе модели имеют встроенную функцию контроля уровня, что позволяет измерять фактическое напряжение на тестируемом компоненте или фактические значения постоянного или переменного напряжения (Vdc, Vac) и тока (Idc, Iac), протекающих через него. Также в приборах имеется возможность измерения абсолютного (Δ) и относительного (Δ%) отклонения от опорного вместо реального тестового значения.
Высокая точность (до 0,05%) и стабильность измерений обеспечиваются использованием четырехпроводной схемы измерения с предварительно проведенной открытой, закрытой и калибровкой на согласованной нагрузке с возможностью частотной коррекции.
Одновременно на экране можно выбрать отображение до четырех измеряемых параметров, которые могут быть настроены произвольно для испытаний при различных условиях измерения.
Автоматическое сканирование имеет два варианта исполнения:
- Создание теста свипирования в табличной форме в виде списка. В данном режиме можно задать максимальное количество точек до 201, режимы запуска и сканирования, условия развертки (частота, тестовый уровень напряжения и тока, смещение напряжения и тока), параметры и пределы измерения.
- Графическое сканирование до 801 точки с представлением в линейном или логарифмическом масштабе в пределах диапазона заданных пользователем режимов и настройке тех же условий, что и в табличной форме. На дисплее отображаются динамические кривые основных и вторичных параметров тестируемого компонента при разных режимах тестирования, с которых можно считать значения в любой точке в пределах диапазона сканирования. Кроме того, одновременно будут отображены максимальное и минимальное значения измерений и соответствующие условия тестирования компонента
Встроенная функция компаратора позволяет отсортировать тестируемые компоненты на 11 ячеек: десять из которых являются ячейками сортировки по заданным условиям и одна – ячейка отбраковки. При этом, можно установить 10 групп верхних и нижних пределов независимо для каждого из четырех выбранных для тестирования параметров.
Функция автоматического регулирования уровня позволяет максимально приблизить фактический тестовый уровень (напряжение на обоих выводах тестируемого компонента или ток, протекающий через тестируемый компонент) к заданному значению тестового уровня. Таким образом, можно поддерживать постоянный испытательный ток или напряжение.
Приборы поставляются в стандартной комплектации с двумя типами внутренних источников смещения:
- источник смещения/тока (Напряжение, ток, внутреннее сопротивление связаны по закону Ома): - 40 В … 40 В / - 100 мА … 100 мА;
- источник тока 0…2 А.
Новые анализаторы компонентов Актаком АММ-3087 и АММ-3089 разработаны на платформе нового поколения, которая сочетает современный интерфейс пользователя и расширенные средства подключения. Приборы оснащены сенсорным ЖК дисплеем с диагональю 10,1 дюйма, имеют также возможность управления с передней панели, дистанционного управления SCPI-командами по интерфейсам RS-232, USB, LAN.
Данные приборы являются идеальным решением для определения и оценки параметров электронных компонентов, полупроводниковых устройств и материалов в процессе разработки, производства и контроля качества готовых изделий и могут быть использованы для тестирования:
- Пассивных компонентов. Оценка параметров импеданса и анализ производительности конденсаторов, катушек индуктивности, магнитопроводов, резисторов, пьезоэлектрических устройств, ферритовых фильтров, кварцевых или пьезокерамических резонаторов;
- Полупроводниковых компонентов. Проверка паразитных параметров и анализ интегральных схем диодов, транзисторов, драйверов светодиодов, варакторов C-VDC и т.д.
- Диэлектрических материалов. Оценка диэлектрической проницаемости и угла потерь полимерных материалов, керамики, печатных плат и других материалов;
- Магнитных материалов. Оценка магнитной проницаемости и угла потерь феррита, аморфных магнетиков и других магнитных материалов;
- Полупроводниковых материалов. Оценка диэлектрической проницаемости, электропроводности и вольтамперных характеристик полупроводниковых материалов;
- Других компонентов. Оценка импеданса печатных плат, реле, переключателей, кабелей, контактов.
